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能量色散X荧光光谱仪
型号：EDX 2000A
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产品说明、手艺参数及设置
EDX2000A能量色散X荧光光谱仪(全自动微区膜厚测试仪)对平面、高低、拐角、弧面等种种简朴及重大形态的样品举行快速对焦精准剖析，知足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。通过自动化的X轴Y轴Z轴的三维移动，双激光定位和掩护系统。
应用领域
电镀行业、电子通讯、航天新能源、五金卫浴、电器装备
汽车制造、磁性子料、贵金属电镀、高校及科研院所等
超高硬件设置
接纳Fast-SDD探测器,高达129eV区分率,能精准地剖析每个元素的特征信号,针对重大底材以及多层重大镀层,同样可以轻松测试。
搭配大功率X光管,能很好的包管信号输出和引发的稳固性,镌汰仪器故障率。
高精度自动化的X、Y、Z轴的三维联动,更精准快速地完成对细小异型(如弧形、拱形、螺纹、球面等)测试点的定位。
设计亮点
上照式设计，可顺应更多异型细小样品的测试。相较古板光路，信号收罗效率提升2倍以上。可变焦高精摄像头，搭配距离补正系统，知足细小产品，台阶，深槽，沉孔样品的测试需求。可编程自动位移平台，细小麋集型可多点测试，大大提高测样效率。自带数据校对系统。
软件界面
人性化的软件界面，让操作变得越发便捷。
曲线的中文备注，让您的操作更易上手。
仪器硬件功效的实时监控，让您的使用越发定心。
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